電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第 2 部分：試驗(yàn)方法

試驗(yàn) B：高溫

1.范圍

GB/T 2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn) Bd與早期版本無實(shí)質(zhì)上的差異”。

本高溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

本高溫試驗(yàn)不能用來評價試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T 2423.22.

本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：

非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：

試驗(yàn) Bb，溫度漸變。散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn)：

試驗(yàn) Bd，溫度漸變；

試驗(yàn) Be，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個試驗(yàn)過程通電。

本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

       2.規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過 GB/T 2423 的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2421 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1 部分：總則（GB/T 2421—1999，idt 1EC 60068—1：1988）GB/T 2422 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語（GB/T 2422—1995.eqv IEC 60068—5—2：1990）

GB/T 2423.22 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化（GB/T 2423.22—2002,IEC 60068-2-14;1984.IDT)

GB/T 2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（GB/T 2424.1—2005，1EC 60068—3—1:1974.IDT)

GB/T 2424.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（GB/T 2424.5—2006.IEC 60068—3-5:2001,T)

GB/T 2424.7 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和試驗(yàn)B（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測量(GB/T 2424.7-2006,IEC 60068-3-7; 2001,IDT)

IEC 60721（所有部分） 環(huán)境條件分級

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